Программа курса «Современные методы диагностики в наноматериалах. Часть 2» образовательной программы опережающей профессиональной подготовки (уровень магистратура), ориентированной на потребности проектных компаний ОАО «Роснано»
Скачать 1.12 Mb.
|
Рентгеноспектральный микроанализ Для дополнительной проверки соотношения толщин слоёв в сверхрешетках проводится эксперимент по РСМА. Регистрируются переходы, характерные для Ca и Cd. Метод микроанализа не чувствителен к атомам фтора в структуре. Результаты приведены в таблице ниже:
Данные, полученные микроанализом, учитывают все слои в структуре. Так как помимо сверхрешетки в структурах есть буферные и «cap»-слои, данные микроанализа требуют поправок для расчёта соотношения толщин слоёв. Пересчитанное соотношение приведено в таблице (выделено жирным шрифтом). В таблице для сравнения приведены величины соотношения толщин слоёв из микроанализа и дифрактометрии. Наблюдается хорошее совпадение результатов (ошибка менее 10%) для короткопериодных сверхрешеток и более заметное расхождение для длиннопериодных. Такая закономерность связана с тем, что метод микроанализа хорошо работает для однородных твердых растворов, а это представление более применимо к короткопериодным сверхрешеткам. Выводы В работе проводится комплексное исследование сверхрешеток CaF2/CdF2, выращенных на Si(111), с периодами от 25 до 175 А: структуры - рентгеновскими методами и электронных свойств - методом КЛ. Анализ дифракционных кривых позволяет судить о структурном совершенстве образцов и позволяет утверждать, что исследовавшиеся образцы являются сверхрешетками с наноразмерными слоями. Получены параметры сверхрешетки: периоды и толщины отдельных слоев, тип особенностей интерфейсов, их среднеквадратичная амплитуда шероховатости. Показано, что решетки с периодами 150 А и 175 А обладают высоким структурным совершенством. Посчитана степень релаксации для одного образца (R = 8%), что позволяет судить о псевдоморфном росте слоев. Показано (из кривых дифрактометрии, спектров катодолюминесценции, результатов микроанализа), что для короткопериодных решеток можно ввести понятие об общем слое со средним составом, но при этом их нельзя рассматривать как твердые растворы (следует из дифракционных кривых). Исследованы спектры катодолюминесценции, которые позволяют судить о механизмах оптических переходов в решетках. Длиннопериодные решетки ведут себя как объемный материал (хорошее встраивание Eu2+, собственный пик автолокализованных экситонов в CdF2), при уменьшении периода происходит переход Eu2+ -> Eu3+, Eu2+ светит значительно меньше (за счет механизмов передачи возбуждения через валентную зону CdF2 и туннелирования электронов), появляется смешанный пик собственной люминесценции среднего состава. |
Похожие:
 | Основная профессиональная образовательная программа профессионального образования по специальности 110809 Механизация сельского хозяйства... |  | «рентгенология», образовательные программы и тестовые задания разработаны сотрудниками курса лучевой диагностики кафедры хирургии... |
| Место учебной дисциплины в структуре основной профессиональной образовательной программы | | Сведения о профессорско-преподавательском составе, необходимом для реализации образовательной программы |
| Лям)» предполагает освоение обучающимися основной профессиональной образовательной программы (опоп) углублённой подготовки (срок... | | Основной методологический принцип, используемый в курсе – тщательное отслеживание модели, заложенной в каждом методе, анализ смысла... |
| Программа учебной дисциплины является частью основной профессиональной образовательной программы в соответствии с фгос по специальности... | | Программа профессионального модуля является частью профессиональной образовательной программы переподготовки специалистов по |
| Программа учебной дисциплины является частью профессиональной образовательной программы переподготовки специалистов по профессии | | Икт (базовый уровень), программы базового уровня курса «Информатика и икт» (Н. Д. Угринович)// Программы для общеобразовательных... |