Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»


Скачать 365.88 Kb.
НазваниеПрограмма дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»
страница1/3
ТипПрограмма дисциплины
  1   2   3
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ

«СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ»

Примерная ПРОГРАММА

Дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»

Для студентов очной формы обучения по специальностям:
210601.65 – Нанотехнология в электронике

240100.62 – Химическая технология

150100.62 – Материаловедение и технологии материалов

210100.62 – Электроника и наноэлектроника
Объём занятий: всего 124ч.

в т. ч. аудиторных 80ч.

из них: лекций 50 ч.

лабораторные работы 30 ч.

самостоятельные работы 44 ч.


Составители программы:
Вислогузов А.Н., канд. техн. наук, директор ЦНИТ СевКавГТУ.

Воронов П.Е. канд. техн. наук, старший научный сотрудник ОНЦ СевКавГТУ.

Турьянский А. Г., доктор физ.-мат. наук, ведущий научный сотрудник, Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН.

Смирнов Д.И., аспирант. Лаборатория «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)»

Герасименко Н. Н., профессор, доктор физ.-мат. наук, начальник лаборатории «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)»

Чернер Я. Е., Ph.D., ATeL, LLC - Advanced Tools for e-Learning, (США) Президент.

Бунина О.А. канд. физ.-мат.наук, старший научный сотрудник лаборатории рентгеноструктурного анализа НИИ физики ЮФУ.

Головко Ю. И., канд. физ.-мат. наук., старший научный сотрудник Южного научного центра РАН.

Таранова М.А., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ.

Эркенова Е.В., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ.


Ставрополь, 2011

1 Цели и задачи курса
Изучаемая дисциплина базируется на фундаментальных знаниях, полученных студентами при изучении общетехнических дисциплин (математика, физика, химия, физика твердого тела).

Учебная цель курса состоит в том, чтобы дать знания:

– о физических основах рентгеновских методов исследования, таких как рефлектометрия, рефрактометрия, дифрактометрия, малоугловое рассеяние, флуоресцентный анализ, измерение спектров поглощения;

– о теоретических основах физики взаимодействия рентгеновского излучения с аморфными, кристаллическими и поликристаллическими материалами;

– об устройстве и физических принципах работы гониометров, рентгеновских трубок, рентгеновских детекторов и т.д.;

– о методах и методиках исследования различных характеристик материалов и физических свойств твердых тел. Направления применения рентгеновских методов исследования в области физики и химии поверхности, физике и технологии твердотельных микро- и нанострукутр, а также, кратко, в смежных областях.

Основной задачей преподавания дисциплины «Рентгеновские методы исследования» является формирование у студента знаний в области рентгеновских методов исследования и приобретение студентами навыков работы на высокотехнологичном оборудовании.
2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины
В результате изучения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен знать:

  • основы кристаллографии: кристаллическая решетка и симметрия кристаллов;

  • физические основы: взаимодействия рентгеновского излучения с веществом; работы источников рентгеновского излучения; монохроматизации рентгеновского излучения; регистрации рентгеновского излучения; дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке; предварительной обработки и индицирования порошковых рентгенограмм;

  • физические основы методов: рефлектометрии; рефрактометрии; дифрактометрии; малоуглового рассеяния; флуоресцентного анализа; измерения спектров поглощения.

  • технические и физические основы проведения: качественного фазового анализа; анализа структурного совершенства тонких пленок; определения размера частиц порошка по рентгендифракционным данным; определения количества и толщины слоев тонкопленочных многослойных наноструктур методом рентгеновской рефлектометрии на МРАС «РИКОР»; определения шероховатости сверхгладких поверхностей по угловой зависимости коэффициента отражения; метода рентгеновской pефрактометрии; эксперимента малоуглового рентгеновского рассеяния; измерения состава материала методом рентгеновского флуоресцентного анализа; измерения рентгеновских спектров поглощения.

В результате усвоения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен обладать:

  • практическими навыками работы на исследовательском рентгеновском оборудовании;

  • представлением об основных принципах работы исследовательского рентгеновского оборудования;

  • навыками выбора необходимых методов рентгеновского исследования.

3 Объем дисциплины и виды учебной работы


Вид занятий

Всего часов

Общая трудоемкость

124

Аудиторные занятия

80

Лекции

50

Лабораторные работы

30

Самостоятельная работа

44

Вид итогового контроля

тестирование


4 Содержание курса
Курс «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»: общая характеристика измерительного комплекса РИКОР, измерительная система комплекса РИКОР, система управления измерениями и регистрации данных, спектры испускания рентгеновских лучей, поглощение рентгеновских лучей, флуоресцентное излучение, рентгеновские трубки, выбор излучения, фильтры, монохроматоры, монохроматизация излучения в дифрактометрическом комплексе РИКОР, сцинтилляционный детектор, принцип работы сцинтилляционного детектора, полупроводниковый детектор, принцип работы полупроводникового детектора, детекторы в гониометрической схеме дифрактометрического комплекса РИКОР, кристаллическая решетка, элементарная ячейка, симметрия кристаллической решетки, кристаллографические плоскости, дифракция рентгеновских лучей на кристаллической решетке, фокусировка по Брэггу-Брентано, метод порошка, приготовление образца, преломление и отражение электромагнитного излучения на границе раздела двух сред, показатель преломления излучения в рентгеновском диапазоне, определение параметров поверхностных слоев и слоистых наноструктур методом рентгеновской рефрактометрии, объекты исследования метода малоуглового рентгеновского рассеяния, физические основы метода, оборудование метода SAXS, исследование монодисперсных систем, исследование полидисперсных систем, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, рентгеновские трубки, спектр тормозного излучения, типы трубок, генератор, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, поглощение, массовый коэффициент ослабления, толщина слоя, насыщенный слой, вторичное возбуждение, измерение рентгеновских лучей, основы физики рентгеновского излучения, характеристическое излучение, тормозное рентгеновское излучение, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, рентгеновская спектроскопия, электронная спектроскопия, электронный спектр, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная дифракция, основы дифракционных методов исследования, рентгеновская рефлектометрия, рентгеновская рефрактометрия, интенсивность рентгеновских отражений, основные требования к подготовке образцов для фазового анализа, количественный фазовый анализ, методы определения количества фазы, метод внутреннего стандарта или метод подмешивания, метод с использованием т. н. «корундового числа»
(RIR метод), использование кинематического эталона и расчет абсолютной интенсивности, безэталонный метод, основные характеристики профиля рентгеновской линии, получение рентгенограммы, положение пика, интенсивность пика, ширина дифракционной линии, этапы обработки рентгенограмм, первичная обработка рентгенограмм, идентификация вещества, определение сингонии кристалла и индицирование рентгенограммы, расчет и уточнение параметров элементарной ячейки, проверка правильности расчетов, определение типа решетки Бравэ, пример обработки слабых сигналов на рентгенограмме, определение параметров монокристаллических образцов методами рентгенографии и дифрактометрии, определение параметров поликристаллических материалов, анализ тонких поликристаллических пленок и эпитаксиальных композиций из тонких поверхностных слоев, структурный анализ аморфных образцов, рентгеновские исследования микронапряжений, методы измерения радиуса кривизны поверхности, сравнение методов измерения радиуса кривизны поверхности, измерений кривизны или изгиба монокристаллических пластин, улучшеный дифракционный метод измерения радиуса кривизны поверхности, определение радиуса кривизны поверхности при помощи XRR.
5 Наименование лекций


№ темы

Наименование лекций

Количество часов

  1. 1.

Функциональная схема МРАС «РИКОР»

2



Рентгеновское излучение

2



Лабораторные источники рентгеновского излучения

2



Монохроматизация рентгеновского излучения

2



Регистрация рентгеновского излучения

2



Симметрия кристаллов

2



Взаимодействие рентгеновских лучей с кристаллическим веществом

4



Предварительная обработка порошковых рентгенограмм

2



Качественный фазовый анализ

2



Анализ структурного совершенства тонких пленок

2



Определение размера частиц порошка по рентгендифракционным данным

2



Метод рентгеновской рефлектометрии

2



Определение на многофункциональном рентгеновском комплексе «РИКОР» количества и толщины слоев тонкопленочных многослойных наноструктур методом рентгеновской рефлектометрии

2



Метод рентгеновской рефрактометрии

2



Реализация методов рентгеновской рефрактометрии в многофункциональном рентгеновском комплексе «РИКОР»

2



Малоугловое рентгеновское рассеяние

2



Измерение состава материала методом рентгеновского флуоресцентного анализа

2



Физические основы использования рентгеновского излучения для неразрушающего контроля материалов

2



Определение параметров монокристаллических образцов методами рентгенографии и дифрактометрии

2



Методы обработки рентгенограмм.

4



Применения дифракционных методов исследования.

2



Определение радиуса кривизны и макронапряжений в пленочных структурах методом дифрактометрии и рефлектометрии.

4

Итого в семестре

50
  1   2   3

Похожие:

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconНациональный стандарт российской федерации
Методы отбора проб, выявления и определения содержания наночастиц и наноматериалов в составе сельскохозяйственной, пищевой продукции...

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconМетоды диагностики девиантного поведения детей и подростков
Тест rafft (Relax, Alone, Friends, Family, Trouble) для быстрой диагностики алкоголизма и наркомании у подростков

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconОхрана поверхностных вод от загрязнения
В целях рационального использования и охраны поверхностных вод предприятие должно обеспечить

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconПрограмма учебной дисциплины «электрохимические методы осаждения...
Программа учебной дисциплины является частью профессиональной образовательной программы переподготовки специалистов по профессии

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconФгос во рабочая программа дисциплины рабочая программа дисциплины методы и средства визуализации

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconМетодические рекомендации по изучению дисциплины «Методы исследований...
Целью освоения дисциплины «Методы исследования в социальной работе» является формирование целостной системы знаний об основных общенаучных...

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconМетодические рекомендации по изучению дисциплины «Методы исследований...
Целью освоения дисциплины «Методы исследования в социальной работе» является формирование целостной системы знаний об основных общенаучных...

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconПрограмма дисциплины социологически е методы в управлении персоналом...
Краткая аннотация (сформулировать на основании пп. 1 Цель изучения дисциплины и пп. 2 задачи дисциплины п. I. Организационно-методический...

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconРабочая программа утверждена на заседании кафедры протокол №10 от...
«Статистические методы исследования юридически значимой информации» является освоение закономерностей сбора, обработки, оценки и...

Программа дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» iconПрограмма дисциплины «Методы научных исследований в менеджменте»
Программа предназначена для преподавателей, ведущих данную дисциплину, учебных ассистентов и студентов направления 38. 03. 02 «Менеджмент»...

Вы можете разместить ссылку на наш сайт:


Все бланки и формы на filling-form.ru




При копировании материала укажите ссылку © 2019
контакты
filling-form.ru

Поиск