Скачать 365.88 Kb.
|
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ «СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ» Примерная ПРОГРАММА Дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов» Для студентов очной формы обучения по специальностям: 210601.65 – Нанотехнология в электронике 240100.62 – Химическая технология 150100.62 – Материаловедение и технологии материалов 210100.62 – Электроника и наноэлектроника Объём занятий: всего 124ч. в т. ч. аудиторных 80ч. из них: лекций 50 ч. лабораторные работы 30 ч. самостоятельные работы 44 ч. Составители программы: Вислогузов А.Н., канд. техн. наук, директор ЦНИТ СевКавГТУ. Воронов П.Е. канд. техн. наук, старший научный сотрудник ОНЦ СевКавГТУ. Турьянский А. Г., доктор физ.-мат. наук, ведущий научный сотрудник, Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН. Смирнов Д.И., аспирант. Лаборатория «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)» Герасименко Н. Н., профессор, доктор физ.-мат. наук, начальник лаборатории «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)» Чернер Я. Е., Ph.D., ATeL, LLC - Advanced Tools for e-Learning, (США) Президент. Бунина О.А. канд. физ.-мат.наук, старший научный сотрудник лаборатории рентгеноструктурного анализа НИИ физики ЮФУ. Головко Ю. И., канд. физ.-мат. наук., старший научный сотрудник Южного научного центра РАН. Таранова М.А., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ. Эркенова Е.В., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ. Ставрополь, 2011 1 Цели и задачи курса Изучаемая дисциплина базируется на фундаментальных знаниях, полученных студентами при изучении общетехнических дисциплин (математика, физика, химия, физика твердого тела). Учебная цель курса состоит в том, чтобы дать знания: – о физических основах рентгеновских методов исследования, таких как рефлектометрия, рефрактометрия, дифрактометрия, малоугловое рассеяние, флуоресцентный анализ, измерение спектров поглощения; – о теоретических основах физики взаимодействия рентгеновского излучения с аморфными, кристаллическими и поликристаллическими материалами; – об устройстве и физических принципах работы гониометров, рентгеновских трубок, рентгеновских детекторов и т.д.; – о методах и методиках исследования различных характеристик материалов и физических свойств твердых тел. Направления применения рентгеновских методов исследования в области физики и химии поверхности, физике и технологии твердотельных микро- и нанострукутр, а также, кратко, в смежных областях. Основной задачей преподавания дисциплины «Рентгеновские методы исследования» является формирование у студента знаний в области рентгеновских методов исследования и приобретение студентами навыков работы на высокотехнологичном оборудовании. 2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины В результате изучения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен знать:
В результате усвоения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен обладать:
3 Объем дисциплины и виды учебной работы
4 Содержание курса Курс «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»: общая характеристика измерительного комплекса РИКОР, измерительная система комплекса РИКОР, система управления измерениями и регистрации данных, спектры испускания рентгеновских лучей, поглощение рентгеновских лучей, флуоресцентное излучение, рентгеновские трубки, выбор излучения, фильтры, монохроматоры, монохроматизация излучения в дифрактометрическом комплексе РИКОР, сцинтилляционный детектор, принцип работы сцинтилляционного детектора, полупроводниковый детектор, принцип работы полупроводникового детектора, детекторы в гониометрической схеме дифрактометрического комплекса РИКОР, кристаллическая решетка, элементарная ячейка, симметрия кристаллической решетки, кристаллографические плоскости, дифракция рентгеновских лучей на кристаллической решетке, фокусировка по Брэггу-Брентано, метод порошка, приготовление образца, преломление и отражение электромагнитного излучения на границе раздела двух сред, показатель преломления излучения в рентгеновском диапазоне, определение параметров поверхностных слоев и слоистых наноструктур методом рентгеновской рефрактометрии, объекты исследования метода малоуглового рентгеновского рассеяния, физические основы метода, оборудование метода SAXS, исследование монодисперсных систем, исследование полидисперсных систем, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, рентгеновские трубки, спектр тормозного излучения, типы трубок, генератор, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, поглощение, массовый коэффициент ослабления, толщина слоя, насыщенный слой, вторичное возбуждение, измерение рентгеновских лучей, основы физики рентгеновского излучения, характеристическое излучение, тормозное рентгеновское излучение, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, рентгеновская спектроскопия, электронная спектроскопия, электронный спектр, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная дифракция, основы дифракционных методов исследования, рентгеновская рефлектометрия, рентгеновская рефрактометрия, интенсивность рентгеновских отражений, основные требования к подготовке образцов для фазового анализа, количественный фазовый анализ, методы определения количества фазы, метод внутреннего стандарта или метод подмешивания, метод с использованием т. н. «корундового числа» (RIR метод), использование кинематического эталона и расчет абсолютной интенсивности, безэталонный метод, основные характеристики профиля рентгеновской линии, получение рентгенограммы, положение пика, интенсивность пика, ширина дифракционной линии, этапы обработки рентгенограмм, первичная обработка рентгенограмм, идентификация вещества, определение сингонии кристалла и индицирование рентгенограммы, расчет и уточнение параметров элементарной ячейки, проверка правильности расчетов, определение типа решетки Бравэ, пример обработки слабых сигналов на рентгенограмме, определение параметров монокристаллических образцов методами рентгенографии и дифрактометрии, определение параметров поликристаллических материалов, анализ тонких поликристаллических пленок и эпитаксиальных композиций из тонких поверхностных слоев, структурный анализ аморфных образцов, рентгеновские исследования микронапряжений, методы измерения радиуса кривизны поверхности, сравнение методов измерения радиуса кривизны поверхности, измерений кривизны или изгиба монокристаллических пластин, улучшеный дифракционный метод измерения радиуса кривизны поверхности, определение радиуса кривизны поверхности при помощи XRR. 5 Наименование лекций
|
Методы отбора проб, выявления и определения содержания наночастиц и наноматериалов в составе сельскохозяйственной, пищевой продукции... | Тест rafft (Relax, Alone, Friends, Family, Trouble) для быстрой диагностики алкоголизма и наркомании у подростков | ||
В целях рационального использования и охраны поверхностных вод предприятие должно обеспечить | Программа учебной дисциплины является частью профессиональной образовательной программы переподготовки специалистов по профессии | ||
Целью освоения дисциплины «Методы исследования в социальной работе» является формирование целостной системы знаний об основных общенаучных... | |||
Целью освоения дисциплины «Методы исследования в социальной работе» является формирование целостной системы знаний об основных общенаучных... | Краткая аннотация (сформулировать на основании пп. 1 Цель изучения дисциплины и пп. 2 задачи дисциплины п. I. Организационно-методический... | ||
«Статистические методы исследования юридически значимой информации» является освоение закономерностей сбора, обработки, оценки и... | Программа предназначена для преподавателей, ведущих данную дисциплину, учебных ассистентов и студентов направления 38. 03. 02 «Менеджмент»... |
Поиск Главная страница   Заполнение бланков   Бланки   Договоры   Документы    |