Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р


Скачать 432.7 Kb.
НазваниеКремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р
страница5/5
ТипДокументы
1   2   3   4   5
77, 4046 (1996).

33. D.E. Jesson, G. Chen, K.M. Chen, and S.J. Pennycook. Phys. Rev. Lett., 80, 5156 (1998).

34. M. Kästner and B. Voigtländer, Phys. Rev. Lett., 82, 2745 (1999).

35. T.I. Kamins, E.C. Carr, R.S. Williams, and S.J. Rosner. J. Appl. Phys., 81, 211 (1997).

36. G. Medeiros-Ribeiro, A.M. Bratkovski, T.I. Kamins et al. Science, 279, 353 (1998).

37. G. Medeiros-Ribeiro, T.I. Kamins, D.A.A. Ohlberg, and R.S. Williams. Phys. Rev., B 58, 3533 (1998).

38. T.I. Kamins, G. Medeiros-Ribeiro, D.A.A. Ohlberg, R.S. Williams. Appl. Phys. A 67, 727 (1998).

39. R.S. Williams, G. Medeiros-Ribeiro, T.I. Kamins, and D.A.A. Ohlberg. J. Physical Chemistry, B 102, 9605 (1998).

40. T.I. Kamins, G.A.D. Briggs, and R. Stanley Williams. Appl. Phys. Lett., 73, 1862 (1998).

41. F.M. Ross, J. Tersoff, R.M. Tromp. Phys. Rev. Lett., 80, 984 (1998); Microsc. Microanal., 4, 254 (1998).

42. Н.В. Востоков, С.А. Гусев, И.В.Долгов, Ю.Н. Дроздов, З.Ф. Красильник, Д.Н. Лобанов, Л.Д. Молдавская, А.В. Новиков, В.В. Постников, Д.О. Филатов, ФТП, №2 (2000)

43. C.-h. Chiu. Appl. Phys. Lett., 75, 3473 (1999).

44. V.A. Shchukin, D. Bimberg. Appl. Phys., A 67, 687 (1998).

45. P. Müller, R. Kern. J. Cryst. Growth, 193, 257 (1998).

46. Y.-W. Mo, D.E. Savage, B.S. Swartzentruber, and M.G. Lagally. Phys. Rev. Lett., 65, 1020 (1990).

47. S.M. Pintus, S.M. Stenin, A.I. Toropov, et al.. Thin Solid Films, 151, 275 (1987).

48. J.A. Floro, E. Chason, L.B. Freund et al.. Phys. Rev., B 59, 1990 (1999).

49. F.K. LeGoues, M.C. Reuter, J. Tersoff, M. Hammar, and R.M. Tromp. Phys. Rev. Lett., 73, 300 (1994).

50. H.T. Johnson and L.B. Freund. J. Appl. Phys., 81, 6081 (1997).

51. V.A. Markov, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov. J. Cryst. Growth, 175/176, 736 (1997).

52. Z. Jiang, H. Zhu, F. Lu et al.. Thin Solid Films, 321, 60 (1998).

53. V.A. Markov, O.P. Pchelyakov, L.V. Sokolov et al.. Surface Sci., 250, 229 (1991).

54. Y. Kim, B.D. Min and E.K. Kim. J. Appl. Phys., 85, 2140 (1999).

55. J. Zhu, K. Brunner and G. Abstreiter. Appl. Phys. Lett., 73, 620 (1998).

56. J. Johansson, W. Seifert. Applied Surface Science, 148, 86 (1999).

57. O.P. Pchelyakov, I.G. Neisvestnyi, Z.Sh. Yanovitskaya. Phys. Low-Dim. Struct., 10/11, 389 (1995).

58. J.A. Floro, E. Chason, M.B. Sinclair, L.B. Freund, G.A. Lucadamo. Appl. Phys. Lett., 73, 951 (1998).

59. H. Omi, T. Ogino. Appl. Surface Sci., 130-132, 781, (1998).

60. G. Springholz, V. Holy, M. Pinczolits, G. Bauer. Science, 282, 734 (1998).

61. Y.W. Zhang, S.J. Xu, and C.-h. Chiu. Appl. Phys. Lett., 74, 1809 (1999).

62. F.M. Ross, R.M. Tromp, M.C. Reuter. Science, 286, 1931 (1999).

63. Y. Obayashi and K. Shintani. J. Appl. Phys., 84, 3142 (1998).

64. G. Abstreiter, P. Schittenhelm, C. Engel, et al. Semicond. Sci. Technol. 11, 1521 (1996).

65. A.I. Yakimov, A.V. Dvurechenskii, Yu.Yu Proskuryakov, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov, S.A. Teys, A.K. Gutakovskii . Appl. Phys. Lett.,75, 1413 (1999).

66. C.S. Peng, Q. Huang, W.Q. Cheng, et al. Appl. Phys. Lett., 72, 2541 (1998).

67. B. Voigtländer and A. Zinner, Appl. Phys. Lett., 63, 3055 (1993).

68. P.W. Deelman, L.J.Schawalter and T. Thundat. J. Vac. Sci. Techn. A, 15, 930 (1997).

69. A. Shklyaev, M. Shibata, M. Ichikawa. Surface Science, 416, 192 (1998).

70. Л.Н. Александров, Р.Н. Ловягин, О.П. Пчеляков, С.И. Стенин. В сб.: Рост и легирование полупроводниковых кристаллов и пленок, ч. II , “Наука”, Новосибирск, 1977, стр. 139.

71. I. Berbezier, B. Gallas, A. Ronda, J. Derrien. Surface Sci., 412/413, 415 (1998).

72. Б.З. Ольшанецкий, В.И. Машанов, А.И. Никифоров. ФТТ, 23, 2567 (1981).

73. Z. Gai, R.G. Zhao, H. Ji, X. Li, and W.S. Yang. Phys. Rev., B 56, 12308, (1997).

74. B.Z. Olshanetsky and V.I. Mashanov. Surface Sci., 111, 414 (1981).

75. B.Z. Olshanetsky, A.E. Solovyov, A.E. Dolbak, A.A. Maslov. Surface Sci., 306, 327 (1994).

76. F. Liu, F. Wu and M.G. Lagally. Chem. Rev., 97, 1045 (1997).

77. D.J. Eaglesham, A.E. White, L.C. Feldman et al. Phys. Rev. Lett., 70, 1643, (1993).

78. J. Walz, A. Greuer, G. Wedler, T. Hesjedal, E. Chilla, R. Koch. Appl. Phys. Lett., 73, 2579 (1998).

79. M. Abdallah, I. Berbezier P. Dawson , M. Serpentini, G. Bremond, B. Joyce. Thin Solid Films, 336, 256 (1998).

80. J. Zhu, K. Brunner, and G. Abstreiter. Appl. Phys. Lett., 72, 424 (1998).

81. K. Sakamoto, H. Matsuhata, M.O. Tanner, D. Wang , K.L. Wang. Thin Solid Films, 321, 55, (1998).

82. H. Omi , T. Ogino. Applied Surface Science, 130–132, 781 (1998).

83. H. Omi and T. Ogino. Phys. Rev., B 59, 7521 (1999).

84. D. Martrou, P. Gentile, N. Magnea. Journal of Crystal Growth, 201/202, 101 (1999).

85. Y. Homma, P. Finnie, T. Ogino H. Noda and T. Urisu. J. Appl. Phys., 86, 3083 (1999).

86. C.W. Oh, E. Kim, and Y.H. Lee. Phys. Rev. Lett., 76, 776 (1996).

87. A. Nagashima, T. Kimura, J. Yoshino. Applied Surface Science, 130–132, 248 (1998).

88. T. Tezuka and N. Sugiyama. J. Appl. Phys., 83, 5239 (1998).

89. V. Le Thanh. Thin Solid Films 321, 98 (1998).

90. X. Deng and M. Krishnamurthy. Phys. Rev. Lett., 81, 1473 (1998).

91. O.G. Schmidt, C. Lange, K. Eberl, O. Kienzle, F. Ernst. Thin Solid Films, 321, 70 (1998).

92. O. Leifeld, R. Hartmann, E. Müller, E. Kaxiras, K. Kern and D. Grützmacher. Nanotechnology, 10, 122 (1999).

93. E.S. Kim, N. Usami, and Y. Shiraki. Appl. Phys. Lett., 72, 1617 (1998).

94. A.A. Shklyaev, M. Shibata, and M. Ichikawa. Appl. Phys. Lett., 72, 320 (1998).

95. T.I. Kamins and R. Stanley Williams. Appl. Phys. Lett., 71, 1201 (1997).

96. T.I. Kamins, R. Stanley Williams and D.P. Basile. Nanotechnology, 10, 117 (1999).

97. O.P. Pchelyakov, V.A. Markov, A.I. Nikiforov, L.V. Sokolov. Thin Solid Films. 306, 299 (1997).

98. Л.В. Соколов, М.А. Ламин, О.П. Пчеляков, А.И. Торопов, С.И. Стенин. Поверхность, 9, 75 (1985).

99. M.A. Lamin, O.P. Pchelyakov, L.V. Sokolov, A.I. Toropov, S.I. Stenin. Surf. Sci., 207, 418 (1989).

100. N. Ohshima, Y. Koide, S. Zaima, Y. Yasuda. J. Cryst. Growth, 115, 106 (1991).

101. Y. Koide, A. Furukawa, S. Zaima, Y. Yasuda. J. Cryst. Growth, 115, 365 (1991).

102. C. Tatsuyama, T. Terasaki, H. Obata, T. Tanbo, H. Ueba. J. Cryst. Growth, 115, 112 (1991).

103. K.Reginski, M.A. Lamin, V.I. Mashanov, O.P. Pchelyakov, L.V. Sokolov. Surf. Sci., 327, 93 (1995).

104. A.I. Yakimov, V.A. Markov, A.V. Dvurechenskii, O.P. Pchelyakov. J. Phys.: Condens. Matter., 6, 2573 (1994).

105. U. Meirav and E.B. Foxman. Semicond. Sci. Technol., 10, 255 (1995).

106. R.C. Ashoori, H.L. Stormer, J.S. Weiner, L.N. Pfeiffer, S.J. Pearton, K.W. Baldwin, K.W. West Phys. Rev. Lett., 68, 3088 (1992).

107. А.И. Якимов, А.В. Двуреченский, А.И. Никифоров, О.П. Пчеляков. Письма в ЖЭТФ, 68, 125 (1998).

108. G. Medeiros-Ribeiro, D. Leonard, P.M. Petroff. Appl. Phys. Lett., 66, 1767 (1995).

109. A.I. Yakimov, A.V. Dvurechenskii, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov. Thin Solid Films, 336, 332 (1998).

110. A.I. Yakimov, C.J. Adkins, R. Boucher, A.V. Dvurechenskii, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov, G. Biskupskii, Phys. Rev. B, 59, 12598 (1999).

111. A.I. Yakimov, A.V. Dvurechenskii, V.V. Kirienko, A.I. Nikiforov, C.J. Adkins. J. Phys. Condens. Matter, 11, 9715 (1999).

112. A.I. Yakimov, A.V. Dvurechenskii, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov. Phys. Low-Dim. Struct., 3/4, 99 (1999).

113. S. Anand, N. Carlsson, M.-E. Pistol, L. Samuelson, W. Seifert. J. Appl. Phys., 84, . 3747 (1998).

114. M. Sugawara, K. Mukai, H. Shoji. Appl. Phys. Lett., 71, 2791 (1997).

115. J.L. Liu, W.G. Wu, A. Balandin, G.L. Jin, K.L. Wang. Appl. Phys. Lett., 74, 185 (1999).

116. P. Boucaud, V. Le Thanh, S. Sauvage, D. Debarre, D. Bouchier. Appl. Phys. Lett., 74, 401 (1999).

117. Д.К. Шредер //В кн.: Приборы с зарядовой связью. Под ред. Д.Ф. Барба - М.: Мир. 1982. С. 70-86.

118. S. Sauvage, P. Boucaud J.-M. Gerard, V. Thierry-Mieg. Phys. Rev. B, 58, 10562 (1998).

119. P. Schittenhelm, C. Engel, F. Findeis, G. Abstreiter, A.A. Darhuber, G. Bauer, A.O. Kosogov, P. Werner. J. Vac. Sci. Technol. B, 16, 1575 (1998).

120. S.K. Zhang, H.J. Zhu, F. Lu, Z.M. Jiang, Xun Wang. Phys. Rev. Lett., 80, 3340 (1998).

121. В.Я. Алешкин, Н.А. Бекин, Н.Г. Калугин, З.Ф. Красильник, А.В. Новиков, В.В. Постников, Х. Сейрингер. Письма в ЖЭТФ, 67, 46 (1998).

122. M. Grassi, M. Alessi, A.S. Capizzi, A. Bhatti, F. Frova, P. Martelli, A. Frigeri, A. Bosacchi and S. Franchi. Phys. Rev. B, 59, 7620 (1999).

123. X. Wang, Z. Jiang, H. Zhu, F. Lu, D. Huang, X. Liu, C. Hu, Y. Chen, Z. Zhu, T. Yao. Appl. Phys. Lett., 71, 3543 (1997).

124. C.S. Peng, Q. Huang, Y.H. Zhang, W.Q. Cheng, T.T. Sheng, C.H. Tung, J.M. Zhou. Thin Solid Films, 323, 174 (1998).

125. P. Boucaud, V. Le Thanh, S. Sauvage, D. Debarre, D. Bouchier, and J.-M. Lourtioz. Thin Solid Films, 336, 240 (1998).

126. E.S. Kim, N. Usami, Y. Shiraki. Appl. Phys. Lett., 72, 1617 (1998).

127. E. Mateeva, P. Sutter, and M.G. Lagally. Appl. Phys. Lett., 74, 567 (1999).

128. E. Palange, G. Capellini, L. Di Gaspare and F. Evangelisti. Appl. Phys. Lett., 68, 2982 (1996).

129. R. Apetz, L. Vescan, A. Hartmann, C. Dieker and H. Luth. Appl. Phys. Lett., 66, 445 (1995).

130. X. Wang, Z. Jiang, H. Zhu, F. Lu, D. Huang, X. Liu, C. Hu, Y. Chen, Z. Zhu, T. Yao. Appl. Phys. Lett., 71, 3543 (1997).

131. C.S. Peng, Q. Huang, Y.H. Zhang, W.Q. Cheng, T.T. Sheng, C.H. Tung, J.M. Zhou. Thin Solid Films, 323, 174 (1998).

132. P. Boucaud, V. Le Thanh, S. Sauvage, D. Debarre, D. Bouchier, and J.-M. Lourtioz. Thin Solid Films, 336, 240 (1998).

133. E.S. Kim, N. Usami, Y. Shiraki. Appl. Phys. Lett., 72, 1617 (1998).

134. E. Mateeva, P. Sutter, and M.G. Lagally. Appl. Phys. Lett., 74, 567 (1999).

135. E. Palange, G. Capellini, L. Di Gaspare and F. Evangelisti. Appl. Phys. Lett., 68, 2982 (1996).

136. R. Apetz, L. Vescan, A. Hartmann, C. Dieker and H. Luth. Appl. Phys. Lett., 66, 445 (1995).
1   2   3   4   5

Похожие:

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconКонкурсная документация на проведение открытого одноэтапного конкурса...
Оао «Янтарьэнерго» «Западные электрические сети» и «Городские электрические сети» на 2013 год

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconФилиала ОАО «сетевая компания» Казанские электрические сети
Закировым Рафаилем Фатыховичем (именуемым далее «Работодатель») и коллективом филиала ОАО «Сетевая компания» Казанские электрические...

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconМетодическая разработка занятия «Углерод и кремний» по дисциплине «Химия»
...

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconПамятка для автопутешественника с детьми
Карта Европы висит в моей комнате (чёрными точками отмечены города, в которых побывал)

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconВысшего профессионального образования санкт-петербургский государственный...
Ii социально-экономические механизмы функционирования ресторанов премиум класса

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconОбзо р
По рассмотрению гражданских дел в апелляционном (кассационном) порядке за 1 полугодие 2012 года

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconМеханизмы социальной перцепции глянцевых журналов
Работа выполнена в Федеральном государственном бюджетном образовательном учреждении высшего профессионального образования «Тюменский...

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconПравительство Российской Федерации Федеральное государственное автономное...
Формы и механизмы французской внешней культурно-лингвистической политики в их взаимосвязи. 27

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconРабочая программа учебной дисциплины
Охрана труда разработана в соответствии с Федеральным государственным образовательным стандартом среднего профессионального образования...

Кремний германиевые наноструктуры с квантовыми точками: механизмы образования и электрические свойства Обзо р iconУмк «Перспективная начальная школа» Формирование ууд при обучении...
Механизмы формирования ууд у обучающихся на ступени начального общего образования

Вы можете разместить ссылку на наш сайт:


Все бланки и формы на filling-form.ru




При копировании материала укажите ссылку © 2019
контакты
filling-form.ru

Поиск