Номер пункта.
Наименование единицы оборудования. Список приборов должен соответствовать форме №2 по формату и очередности (полная копия списка из формы №2).
F. Расчет себестоимость одного часа работы на оборудовании ЦКП (F) определяется по следующей формуле: F = А + B + C + D + E
А.- амортизационные отчисления по оборудованию, участвующему в проведении испытания, измерения, исследования, руб. в час;
В - затраты на содержание и обслуживание основного и вспомогательного оборудования, участвующего в проведении испытания, измерения, исследования (ремонт, сервис), руб. в час;
С - затраты на оплату электроэнергии, руб. в час;
D - затраты на расходные материалы, руб. в час;
E – заработная плата оператора оборудования за один час работы, руб. в час.
Форма №4.
Пример заполнения формы.
№ п/п
|
Наименование методики
|
Наименование организации, аттестовавшей методику
|
Дата аттестации (число, месяц, год)
|
1
|
2
|
3
|
4
|
1
|
Методика масс-спектрального определения примесей (ММСОП) в литии, графите, натрии, алюминии, калии, рубидии и цезии (полный примесный состав)
|
ОАО "Гиредмет"
|
27 июня 2008 г.
|
2
|
Методика масс-спектрального определения примесей в оксидах щелочноземельных и редкоземельных металлов, оксидах бора, алюминия, кремния, титана, ванадия, хрома, марганца, железа, никеля, кобальта, меди, цинка, галлия, германия, циркония, ниобия, молибдена, кадмия, индия, олова, гафния, тантала, вольфрама, рения, ртути и свинца, фторидах щелочных, щелочноземельных и редкоземельных металлов, хлоридах щелочных металлов, хлоридах галлия и индия, хлоридах и бромидах таллия и серебра, сульфидах марганца, железа, кобальта, никеля, цинка, кадмия, олова и свинца, карбидах бора, бериллия, алюминия, кремния, титана, ванадия, хрома, марганца, железа, иттрия, циркония, молибдена, ниобия, лантана, церия, гафния, тантала и вольфрама
|
ОАО "Гиредмет"
|
18 ноября 2010 г.
|
3
|
Методика масс-спектрального определения примесей (ММСОП) в бериллии, магнии, кальции, скандии, стронции, иттрии, барии, лантане, церии, празеодиме, неодиме, самарии, европии, гадолинии, тербии, диспрозии, гольмии, эрбии, тулии, иттербии и лютеции (полный примесный состав)
|
ОАО "Гиредмет"
|
25 июня 2008 г.
|
4
|
Методика исследования структурного совершенства монокристаллических объектов методом рентгеновской топографии
|
-
|
-
|
5
|
Методика рентгеноспектрального определения золота и серебра во вторичном сырье драгоценных (благородных) металлов
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
6
|
Методика исследования структурных дефектов в монокристаллах и эпитаксиальных композициях на наноразмерном уровне методом просвечивающей электронной микроскопии
|
-
|
-
|
7
|
Методика исследования структурного совершенства монокристаллов методом просвечивающей ИК-микроскопии
|
-
|
-
|
8
|
Методика выполнения измерения углов отклонения плоскостей пластины, базового среза на пластине и геометрический оси затравки монокристаллического кремния от заданных кристаллографических плоскостей и направлений и идентификация кристаллографической ориентации геометрических плоских поверхностей пластины, базового среза на пластине и оси затравки рентгенодифрактометричес-ким способом. Погрешность измерения угла отклонения кристаллографической плоскости от плоскости среза не более 1
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
9
|
Методика получения наноразмерных кремния и карбида кремния
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
10
|
Методика получения устойчивых дисперсий наноразмерных частиц
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
11
|
Методика проведения измерений коэффициента пропускания порошков нанокремния в ультрафиолетовом диапазоне спектра
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
12
|
Методика определения удельной поверхности и пористости нанодисперсных порошков кремния
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2005 г.
|
13
|
Методика измерения времени жизни ННЗ методом затухания фотопроводимости, диапазон измерений ННЗ 10-5000 мкс. Для монокристаллического кремния с УЭС более 40 Ом·см погрешность единичного измерения 4,00%
|
-
|
-
|
14
|
Методика исследования структурного совершенства монокристаллических объектов методом рентгеновской топографии
|
ОАО "Гиредмет"
|
14 января 2006 г.
|
Номер пункта.
Наименование методики. В данном столбце заполняется наименование методики, в которой должны быть отражены метод измерения и цель измерения.
Наименование организации аттестовавшей методику. Заполняется наименование организации, аттестовавшей методику. Если методика аттестована во внутренних органах организации, имеющих аккредитацию, заполняется собственное имя организации.
Дата аттестации (число, месяц, год). Заполняется дата аттестации.
Форма №5.
Пример заполнения формы.
№ п/п
|
Наименование услуги
|
Классификатор услуги
|
Используемое научное оборудование
|
Используемая методика
|
Продолжи-тельность оказания услуги, (часов) (t)
|
Себестои-мость услуги, (руб.) (S)
|
Стоимость (цена) услуги (по договору, фактическая), (руб.)
|
Количество оказанных услуг, ед.
|
Прио-ритет-ное направ-ление
|
Всего
|
Внеш-ним заказ-чикам
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
7
|
8
|
9
|
10
|
11
|
1
|
Качественный и количественный анализ веществ и материалов масс-спектральными методами
|
2.1.2.4
|
2, 5, 6
|
1-3
|
8
|
3500
|
4500
|
252
|
252
|
ИН
|
2
|
Качественный и количественный анализ веществ и материалов рентгеновскими методами
|
2.1.2.2
|
3, 4, 7
|
4,5
|
2
|
800
|
1200
|
181
|
175
|
ИН
|
3
|
Съемка кривых дифракционного отражения структур эпитаксиального кремния на сапфире
|
1.12; 2.1.1.2; 2.1.2.2
|
1
|
6,7
|
64
|
15616
|
20000
|
50
|
50
|
ИН
|
4
|
Исследование атомарно чистой поверхности полупроводниковых соединений
|
1.12; 2.1.1.2; 2.1.2.10
|
8,9
|
8-12
|
80
|
39000
|
43000
|
1
|
1
|
ИН
|
5
|
Измерение времени жизни носителей заряда в монокристаллическом кремнии
|
1.12; 2.1.1.3; 2.1.2.10
|
10
|
13
|
5
|
1000
|
6000
|
1
|
1
|
ИН
|
6
|
Съемка кривой дифракционного отражения (КДО) в отражении (004) в структурах, изготовленных заказчиком (эпитаксиальный слой кремния, выращенный на сапфировой подложке r-ориентации) с последующим замером полуширины полученной КДО
|
1.12; 2.1.1.2; 2.1.2.2
|
1
|
14
|
2
|
1200
|
1320
|
50
|
50
|
ИН
|
Номер пункта.
Наименование услуги. Все наименования услуг должны различаться. В наименовании должны быть указаны параметры услуги, выделяющие ее из общего направления. Формулировка услуги ЦКП должна быть корректной и должна содержать следующую информацию: наименование объекта (например, клетка, металл), предмет (например, состав, структура, свойства), действие (например, исследование, испытание, измерение), используемый метод (например, спектроскопические) и другие существенные условия оказания услуг. При формулировке услуги целесообразно использовать классификатор (стр. 27 приложение 2). Например, наименование услуги «Определение плотности» будет не корректным, так как не раскрывается суть предоставляемой услуги, а указывается лишь направление измерения. Корректным будет наименование услуги «Определение плотности, размеров и распределения микродефектов в эпитаксиальных слоях нитрида галлия и твердых растворов на его основе». В данном наименовании присутствуют данные об измеряемых показателях и образцах, которые исследуются.
Классификатор услуги. Указывается исходя из формулировки и содержания услуги. Например, для услуги «Исследование состава воды масс-спектральными методами» могут быть установлены следующие классификаторы: 1.14.1; 2.1.1.1; 2.1.2.4 (приложение 2). Обращаем Ваше внимание, что разделительным знаком перечисления классификаторов служит точка с запятой.
Используемое научное оборудование. В данном столбце заполняется № прибора из 2 и 3 формы (порядковый номер прибора в этих формах должен быть одинаковый). Если используется несколько приборов для одной услуги, номера приборов заносятся через запятую, либо через тире, если это диапазон (приборы с 4 по10, запись в ячейке 4-10).
Используемая методика. Указываются через запятую порядковые номера методик, представленных в форме № 4.
Продолжительность оказания услуги (часов). Время, необходимое для предоставления одной услуги.
t=t1+t2+tn, где
t1,t2,tn – время работы единиц оборудования, которые используются при оказании услуги, час.
Себестоимость услуги (рублей). Расчетная стоимость оказания одной услуги на приборе или приборах.
Себестоимости услуги (S) рассчитывается по формуле:
S=(t1*F1)+(t2*F2)+(t3*F3), где
t1,t2,tn – время работы единиц оборудования, которые используются при оказании услуги, час.
F1, F2, Fn - себестоимость работы на оборудовании, руб. в час (для расчетов источником значений F1, F2, Fn является форма №3).
Стоимость (цена) услуги (по договору, фактическая), (руб.). Заполняется фактическая стоимость одной услуги по договору. Если услуга оказана бесплатно, в ячейке заполняется «0».
Количество оказанных услуг всего. Указывается общее количество услуг, оказанных за отчетный период.
Количество оказанных услуг внешним заказчикам. Количество услуг, оказанных организациям, не входящим во внутреннюю структуру организации.
Приоритетное направление. Заполняется из выпадающего списка аббревиатур. Безопасность и противодействие терроризму – БПТ, индустрия наносистем – ИН, информационно-телекоммуникационные системы – ИТС, науки о жизни – НЖ, перспективные виды вооружения, военной и специальной техники – ПВВ, рациональное природопользование – РП, транспортные и космические системы – ТКС, энергоэффективность, энергосбережение, ядерная энергетика - ЭЭЯ.
Форма №6.
Пример заполнения формы.
№ п/п
|
Наименование НИР
|
Используемое научное оборудование1
|
Заказчик
|
Источник финансирования
|
Приори-тетное направ-ление
|
Номер критической технологии
|
Объем финанси-рования, (млн.руб.)
|
Объем работ, выполненных соисполни-телями, (млн.руб.)
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
7
|
8
|
9
|
1
|
Твердотельные полупроводниковые структуры на основе наноматериалов для оптоэлектронных и сенсорных устройств
|
1,8,9,10
|
Минобрнауки России
|
ГК
|
ИН
|
8
|
5
|
0
|
2
|
Исследование обусловленных кислородом наноразмерных структурных превращений в бездислокационных микрокристаллах кремния и их влияние на свойства кристаллов с использованием УСУ
|
21
|
Минобрнауки России
|
ГК
|
ИН
|
8
|
2,6
|
0
|
3
|
Рост одномерных кристаллов полупроводниковых соединений в каналах углеродных нанотрубок
|
1,8,9,10, 21
|
Минобрнауки России
|
ГК
|
ИН
|
8
|
2
|
0
|
4
|
Разработка методов синтеза силоксановых наночастиц из попутных продуктов производства поликристаллического кремния и улавливания образующего водорода с последующим возвратом его в рецикл с участием научных организаций Киргизии
|
1,8,9,10
|
Минобрнауки России
|
ГК
|
ИН
|
8
|
2
|
0,5
|
5
|
Разработка усовершенствованных методик анализа сульфида кадмия и исходных продуктов для его производства
|
23
|
ООО «АДВ-Инжиниринг»
|
ХД
|
ИН
|
нет
|
0,25
|
0
|
|
