Содержание выпусков
журнала
«Известия СПбГЭТУ "ЛЭТИ"»
Физика твердого тела и электроника
2015 Вып. 3
В. Б. Бессонов, А. В. Ободовский, А. Ю. Грязнов
Санкт-Петербургский государственный электротехнический
университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
И. А. Бойко
ЗАО «Светлана-Рентген» (Санкт-Петербург)
Технология микрофокусной рентгенографии
при исследовании археологических памятников,
музейных объектов и произведений искусства
Рассматриваются физико-технические основы метода рентгенографии с прямым геометрическим увеличением объекта исследования (микрофокусный способ). Рассматриваются особенности получения рентгеновских снимков на аппаратах с протяженным и точечным фокусным пятном. Приводятся результаты исследований археологических объектов и музейных ценностей методом микрофокусной рентгенографии.
Рентгенография, микрофокусная рентгенография, дефектоскопия, геометрическое
увеличение, фокусное пятно
V. B. Bessonov, A. V. Obodovsky, A. Yu. Gryaznov
Saint-Petersburg state electrotechnical university «LETI»
I. A. Boyko
ZAO «Svetlana-X-Ray» (Saint-Petersburg)
MICROFOCUS X-RAY RADIOGRAPHY IN THE STUDY OF ARCHAEOLOGICAL SITES,
MUSEUM OBJECTS AND WORKS OF ART
This article covers physical and technical principles of the radiography method with direct geometric magnification of the object (microfocus radiography). Features of obtaining X-ray images on devices with extended and point focal spot are discussed. Results of studies of archaeological sites and museum objects with microfocus X-ray radiography method are shown.
X-ray radiography, microfocus X-ray radiography, X-ray inspection, geometric magnification, focal spot
А. А. Ухов, Д. К. Кострин, В. А. Герасимов, Л. М. Селиванов
Санкт-Петербургский государственный электротехнический
университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
Особенности анализа состава плазмы с помощью
малогабаритного оптического спектрометра
Рассмотрены особенности применения малогабаритного оптического спектрометра для анализа состава плазмы. Описаны возможности разработанного программного обеспечения для идентификации спектральных линий в спектре излучения. Рассмотрены сложности, возникающие при анализе спектров излучения плазмы сложного состава.
Эмиссионная спектроскопия, оптический спектрометр, состав плазмы, спектральная линия
A. A. Uhov, D. K. Kostrin, V. A. Gerasimov, L. M. Selivanov
Saint-Petersburg state electrotechnical university «LETI»
FEATURES OF THE ANALYSIS OF COMPOSITION OF PLASMA BY MEANS
OF THE COMPACT OPTICAL SPECTROMETER
Features of application of a compact optical spectrometer for the analysis of composition of plasma are considered. Capabilities of the developed software for identification of spectral lines in a spectrum of radiation are described. The difficulties arising in the analysis of spectrums of radiation of plasma with complex structure are considered.
Emissive spectroscopy, optical spectrometer, composition of plasma, spectral line
Информатика, управление
и компьютерные технологии
Е. Г. Воробьев
Санкт-Петербургский государственный электротехнический
университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
Использование фрактальной структуры полей,
образованных кодами с различными основаниями,
для решения задачи создания единого
информационного пространства
Приводятся результаты моделирования упорядоченных цифровых полей, образованных кодами с произвольным основанием, описываются их свойства, алгоритм формирования, примеры визуализации и возможности реализации с их помощью единого информационного пространства.
Фрактальная структура, единое информационное пространство, моделирование
E. G. Vorobiev
Saint-Petersburg state electrotechnical university «LETI»
|
