Всесоюзный научно-исследовательский институт по строительству магистральных трубопроводов

Рис. 7. Схема просвечивания криволинейного шва изнутри трубы pа несколько установок источника излучения Ф - максимальный размер фокусного пятна источника излучения, мм; К - требуемая чувствительность радиографического контроля, мм. 5.41. Смещение источника излучения относительно плоскости сварного шва при контроле по схеме, представленной на рис. 4, составляет 0,35f - 0,5f при просвечивании за одну экспозицию и  0,2f при просвечивании за две экспозиции (f - фокусное расстояние). Рис. 8. Схема фронтального просвечивания криволинейных швов врезок малого диаметра за одну установку источника излучения Рис. 9. Схема фронтального просвечивания криволинейных швов врезок большого диаметра за несколько установок источника излучения Таблица 7 Схема просвечивания Минимальное количество экспозиций (участков) 1 2 Рис. 2, 6 1 Рис. 4 Рис. 3, 7, 8, 9 при  0,75 при < 0,75 Рис. 5 2 Рис. 10 Рис. 10. Схемы просвечивания криволинейных швов врезок снаружи трубы за несколько установок источника излучения 5.42. При просвечивании по схемам, представленным на рис. 2, 3 и 5, угол между направлением излучения и плоскостью сварного шва не должен превышать 5°. 5.43. При просвечивании по схемам, представленным на рис. 3, 6-10, угол между направлением излучения и плоскостью контролируемого участка сварного шва в любой его точке не должен превышать 30°. 5.44. Энергию рентгеновского излучения (напряжение на трубке), тип радиоактивного источника, тип радиографической пленки, схему зарядки кассет (с усиливающими экранами или без них), толщину защитных свинцовых экранов (от рассеянного излучения) и схему просвечивания выбирают в зависимости от геометрических размеров контролируемого изделия таким образом, чтобы чувствительность контроля не превышала половины размера по глубине минимального из недопустимых дефектов, но не более значений, приведенных в табл. 8. Таблица 8 Толщина контролируемого металла в месте Класс чувствительности установки эталона чувствительности, мм 1 2 3 До 5 0,10 0,10 0,20 Свыше 5 до 9 вкл. 0,20 0,20 0,30 9 до 12 " 0,20 0,30 0,40 12 до 20 " 0,30 0,40 0,50 20 до 30 " 0,40 0,50 0,60 30 до 40 " 0,50 0,60 0,75 40 до 50 " 0,60 0,75 1,00 50 до 70 " 0,75 1,00 1,25 70 до 100 " 1,00 1,25 1,50 100 до 120 " 1,25 1,50 2,00 Примечания: 1. При давлении в трубопроводе до 10 МПа включительно чувствительность контроля должна соответствовать третьему классу, при давлении свыше 10 МПа - второму. 2. Если на какой-то конкретный объект разрабатывается специальная технология сварки и контроля сварных соединений, то в нормативно-технической документации (инструкции, руководстве и др.) должен быть оговорен класс чувствительности снимка (контроля). Чувствительность контроля К определяют (КI в мм или КII в %) по изображению на снимке канавочного, проволочного или пластинчатого эталона по формулам: при использовании канавочных или пластинчатых эталонов чувствительности КI = hmin, (2) или ; (3) при использовании проволочных эталонов чувствительности КI = dmin, (4) или , (5) где S - толщина контролируемого металла в месте установки эталона, мм; S - толщина просвечиваемого металла в мосте установки эталона, т.е. толщина контролируемого металла плюс толщина эталона (S = S + h); hmin - глубина наименьшей видимой на снимке канавки канавочного эталона (толщина пластинчатого эталона, когда на снимке выявляется отверстие диаметром, равном удвоенной толщине этого эталона), мм; h - толщина эталона чувствительности, мм; dmin - диаметр наименьшей видимой на снимке проволоки проволочного эталона, мм. Чувствительность контроля (чувствительность снимков) при просвечивании "на эллипс" за одну или две экспозиции определяют по отношению к удвоенной толщине стенки трубы: а) при использовании канавочных или пластинчатых эталонов чувствительности КI = hmin, (6) или ; (7) б) при использовании проволочных эталонов чувствительности КI = dmin, (8) или . (9) Примечание. При просвечивании "на эллипс" с использованием канавочных эталонов чувствительность снимков может считаться достаточной, если видна следующая меньшая по величине канавка по сравнению с той которая соответствует допускаемой глубине дефектов. 5.45. Экспозицию (фактор экспозиции) определяют по специальным номограммам. На рис. 11, 12 приведены номограммы для пленки РТ-СШ. Для определения времени экспозиции при использовании других типов пленок полученные по номограммам результаты необходимо уточнить, принимая во внимание величины относительной чувствительности этих пленок. Рис. 11. Номограмма для определения времени экспозиции при просвечивании стали рентгеновскими аппаратами непрерывного действия на пленку типа ГТ-СШ (чувствительность 25 I/Р) при фокусном расстоянии 700 мм и при различных напряжениях на трубке рентгеновского аппарата 5.46. Если фокусное расстояние отличается от приведенных на рис. 11, 12, то фактор экспозиции можно определять из следующей зависимости: , (10) где Е1 и Е2 - факторы экспозиции при фокусных расстояниях f1 и f2 соответственно; f1 - фокусное расстояние по номограмме (см. рис. 11); f2 - фокусное расстояние, необходимое при работе. Рис. 12. Номограммы для Определения экспозиции при просвечивании стали на рулонную радиографическую пленку РТ-СШ гамма-источниками: а - иридий-192; б - цезий-137 при разных фокусных расстояниях: 1 - f = 500 мм; 2 - f = 600 мм; 3 - f = 700 мм 5.47. При использовании в качестве источника излучения изотопа иридий-192 через каждые 1-2 недели необходимо увеличивать время экспозиции делением его первоначального значения на величину поправочного коэффициента (значения коэффициента приведены в табл. 9). Таблица 9 Время (Т), недели Значения коэффициента К Время (Т), недели Значения коэффициента К 1 2 3 4 0 1 11 0,486 1 0,937 12 0,455 2 0,877 13 0,426 3 0,821 14 0,399 4 0,769 15 0,374 5 0,720 16 0,350 6 0,675 17 0,328 7 0,632 18 0,307 8 0,592 19 0,288 9 0,554 20 0,269 10 0,519 21 0,252 5.48. Суммарная разностенность толщин, просвечиваемых за одну экспозицию, не должна превышать следующих величин (для оптических плотностей 1,5-3,0 единиц оптической плотности): 5,5 мм при напряжении на рентгеновской трубке 200 кВ; 7,0 мм при напряжении на рентгеновской трубке 260 кВ; 15 мм при использовании иридия-192; 15 мм при использовании цезия-137. При наличии оборудования для просмотра снимков, имеющих почернение до 4 е.о.п., суммарная разностенность не должна превышать: 7,5 мм при напряжении на трубке 200 кВ; 9,0 мм при напряжении на трубке 260 кВ; 20,0 мм при использовании иридия-192; 22,0 мм при использовании цезия-137. Примечания: 1. При просвечивании необходимо использовать технические пленки. 2. Изображение на снимке более тонкого элемента должно иметь максимальную оптическую плотность. 3. При определении чувствительности контроля расчет необходимо вести по той толщине стенки, на которую установлены эталоны чувствительности. 5.49. Снимки, допущенные к расшифровке, должны удовлетворять следующим требованиям: длина каждого снимка должна обеспечивать перекрытие изображения смежных участков сварного соединения на величину не менее 20 мм, а его ширина - получение изображения сварного шва и прилегающих к нему околошовных зон шириной не менее 20 мм с каждой; на снимках не должно быть пятен, полос, загрязнений, следов электростатических разрядов и других повреждений эмульсионного слоя, затрудняющих их расшифровку; на снимках должны быть видны изображения эталонов чувствительности и маркировочных знаков, ограничительных меток, имитаторов и мерительных поясов, если они использовались; оптическая плотность изображений основного металла контролируемого участка должна быть не менее 2 е.о.п. При использовании высокочувствительных экранных радиографических пленок снимки должны иметь потемнение, находящееся в пределах 1-2 е.о.п. (на участках с изображением основного металла). Разность оптических плотностей изображений канавочного эталона чувствительности и основного металла в месте установки эталона должна быть не менее 0,3 е.о.п. Чувствительность снимков должна соответствовать требованиям п. 5.44 настоящих ВСН. 5.50. Расшифровка и оценка качества сварных соединений по снимкам, на которых отсутствуют изображения эталонов чувствительности и имитаторов (если они используются), не допускается, если это специально не оговорено технической документацией. 5.51. Размеры дефектов при расшифровке снимков следует округлять до ближайших значений из ряда чисел: 0,2; 0,5; 0,4; 0,5; 0,6; 0,8; 1,0; 1,2; 1,5; 2,0; 2,5; 2,7; 3,0. При просвечивании "на эллипс" (см. рис. 4) размеры дефектов участка сварного соединения, расположенного со стороны источника излучения, перед их округлением должны быть умножены на коэффициент:

Похожие:

	Всесоюзный научно-исследовательский институт по строительству магистральных трубопроводов		С введением в действие "Ведомственных строительных норм. "Строительство... Разработаны и внесены всесоюзным научно-исследовательским институтом по строительству магистральных трубопроводов (вниист)
	Утвержден Приказом Министерства строительства и жилищно-коммунального... Инжиниринговая нефтегазовая компания Всесоюзный научно-исследовательский институт по строительству и эксплуатации трубопроводов,...		Ведомственные строительные нормы строительство магистральных и промысловых... Разработаны всесоюзным научно-исследовательским институтом по строительству магистральных трубопроводов (вниист): В. Д. Шапиро; М....
	Методические указания му 2552-09 Микроб"; фгуз "Противочумный центр Роспотребнадзора"; фгуз "Ростовский-на-Дону научно-исследовательский противочумный институт";...		Федеральное агентство по строительству и жилищно-коммунальному хозяйству (росстрой) Разработаны федеральным государственным унитарным предприятием «Центр методологии нормирования и стандартизации в строительстве»...
	Отчет о научно-исследовательской работе общие требования и правила... Федеральным государственным унитарным предприятием «Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов» и...		На техническое обслуживание инженерно-технических средств охраны Акционерное общество «Институт по проектированию магистральных трубопроводов» (ао «Гипротрубопровод»)
	Утвержден Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский институт «Гириконд» создано Комитетом по управлению городским имуществом...		Решение открытого акционерного общества «Российская электроника» Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский институт «Гириконд» создано Комитетом по управлению городским имуществом...